




反光率测量系统——广州景颐光电科技有限公司是专门做反射率检测仪的公司
反射率测量仪使用方法
1、将探针连接到电气控制箱,同时连接电源,打开电源,预热15-20分钟。这时把探针放在黑色标准板上。
2、校准:将探针放在黑色标准板上,调整主机的校准手柄,将主机编号显示为00.0,允许更改0.1。
3、校正标准值:将探针放在白色标准板上,调整主机的校正旋钮,使主机上显示的数字与白色标准板的校正值相匹配,允许0.1波动。重复2-3次,---主机上显示的数字为0,汽车镜反光率测量系统,满足校准要求。(注:标准版值为两位小数,更正时,请---用户四舍五入以保持一位小数。),以获取详细信息。
4、测量rb值:将探针移动到含样品的黑色工作陶瓷面板时,显示屏上显示的值为rb值(请参阅或相关的要求)。反射率测量仪
5、rw值测量:将探针移动到具有样本的白色工作陶瓷面板上时,显示屏上显示的值为rw值(请参阅或相关的要求)。
6、计算以获得比率rb/rw值。
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当光束接近正入射(入射角θ约等于0)时,汽车反光镜反光率测量系统,反射率计算公式是:r=(n1-n2)^2/(n1+n2)^2
其中n1,n2分别是两种介质的真实折射率(即相对于真空的折射率)。折射率是指光线进入不同介质时角度发生改变的现象,用sinθ1/sinθ2来表征。θ1,θ2分别为入射角和折射角,汽车辅助镜反光率测量系统,即光线与法线的夹角。
通常来说,光线在临界面上的反射率仅与介质的物理性能,光线的波长,以及入射角相关。
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硅片反射率检测仪
硅片又称晶圆片,是由硅锭加工而成的,通过专门的工艺可以在硅片上刻蚀出数以百万计的晶体管,被广泛应用于集成电路的制造。
硅属于半导体材料,其自身的导电性并不是---。然而,可以通过添加适当的掺杂剂来控制它的电阻率。制造半导体前,必须将硅转换为晶圆片。
加工硅片生成一个硅锭要花一周到一个月的时间,这取决于很多因素,包括大小、和终端用户要求,因此需要反射率检测仪来测试其是否达到标准。
景颐光电生产的反射率检测系统采用卤素灯光源或紫外全光谱光源,信阳反光率测量系统,光源输出均匀稳定,操作简便,使用灵活,还可定制工业在线自动检测方案。
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